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日本帶有瑕疵點的塑料粒子色選機 AKIYAMA日本透明黑粒去除機塑料粒子色選機塑膠粒子色選機 塑料色彩選別機 0.1mm塑膠粒子色選機 0.1毫米透明粒子黑點選別機 透明樹脂粒子分揀機
更新日期：2024-03-20 訪問量：1703
日本進口塑料粒子黑點色選機TS-7400TH AKIYAMA日本透明黑粒去除機塑料粒子色選機塑膠粒子色選機 塑料色彩選別機 0.1mm塑膠粒子色選機 0.1毫米透明粒子黑點選別機 透明樹脂粒子分揀機
更新日期：2024-03-20 訪問量：2376
日本anritsu片劑，膠囊用金屬檢測器KDS1004PSW 降低金屬探測器的穩定性主要原因是，會擾亂金屬探測器磁場的振動、靜電和來自外圍設備的噪音等。安立的醫藥行業金屬探測器，通過加強針對這些原因的耐性，從而實現了穩定的高靈敏度檢測。
更新日期：2025-05-02 訪問量：1805
日本MIC超高電阻測試儀AE-1644E 非常適合安裝 10kΩ ~ 1TΩ 芯片、Melf、軸向型 超高電阻機器分揀機、激光和切割機型修邊機
更新日期：2024-03-20 訪問量：1396
日本MIC高精度超低電阻測量儀AE-1152D 自動測量超低電阻的理想之選 非常適合分流電阻器等的超低電阻測量。 取消熱電動勢效應的測量 脈沖測量電流，減少測量端子自熱和磨損
更新日期：2024-03-20 訪問量：2299
日本MIC超高精度數字電阻測試儀AE-173E 內置換檔電磁閥電源：DC12V（2A）、24V（1A）/脈沖輸出（2A） 內置無缺陷計數器
更新日期：2024-03-20 訪問量：1243
日本MIC超高精度、數字電阻檢測儀AE-163L 超小尺寸芯片 （0 2 0 1, 0 3 0 1 5 ...） 兼容精密電阻！ 適用于 B、C、D、F、G、J、K 類、插入式、melf、徑向和軸向電阻分選機和編帶機
更新日期：2024-03-20 訪問量：1189
日本MIC超高精度、超精密電阻檢測AE-163D 非常適合用于 B、C、D、F、G、J、K 級、插入、melph 、徑向和軸向電阻器的分揀和編帶機
更新日期：2024-03-20 訪問量：1212
日本MIC兼容超小芯片高精度、數字電阻檢測器AE-162L D、F、G、J、K級超小尖頭（0201、03015）兼容編帶機 0201、03015尺寸超小型芯片兼容（測量功率0.02W以下/測量端子開路電壓9V以下）
更新日期：2024-03-20 訪問量：1103
日本MIC超高速芯片電阻檢測儀AE-162E 由于模數隔離提高了抗噪性，因此穩定性高 兼容極小的芯片（低功耗測量） 超高速 0.7msec.（代表值）
更新日期：2024-03-20 訪問量：1115
日本MIC超高速芯片電阻檢測儀AE-162D 適用于 D、F、G、J、K 級、芯片、melph、徑向和軸向電阻器的分揀和編帶機
更新日期：2024-03-20 訪問量：1139
日本imt獨立負載型自動拋光機 Rana-3 Rana-3采用單獨加載方式，可自由設置1-6個樣品。 由于可以改變支架的轉數，所以可以在相同的轉數下對支架和盤進行拋光，并且拋光表面不會傾斜或變成鉛筆狀。 支架和圓盤都可以向前和向后旋轉。
更新日期：2024-03-20 訪問量：1323
日本imt滾筒式樣品拋光機SP-As1 / As2 用于安裝拋光機 IM-P2 的滾筒式樣品旋轉機。 拋光非嵌入樣品時，可將SP-As1連接到拋光機IM-P2上，實現自動拋光。 非常適合長時間低速包裹的樣品。 也可提供與樣品匹配的定制支架。
更新日期：2024-03-20 訪問量：1542
日本imt實驗拋光機組合IM-P2+SP-L1 用于安裝拋光機 IM-P2 的樣品旋轉機。 拋光嵌入樣品時，將 SP-L1 連接到拋光機 IM-P2 以啟用自動拋光。 由于可以改變磁頭轉速，因此可以以相同的轉速對支架和光盤進行拋光，防止拋光表面傾斜或變成鉛筆狀，并且可以在不失去平行度的情況下進行研磨。
更新日期：2024-03-20 訪問量：1300
日本imt臺式樣品拋光機 IM-P2 IM-P2是一款于手工拋光的拋光設備。通過改裝樣品旋轉機也可以實現自動化。 工作臺高度便于更換圓盤并用手拋光。 搭載了即使在高轉速和低速范圍內也能產生強大扭矩的電機！
更新日期：2024-03-20 訪問量：1343
